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          產(chǎn)品
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                      Solar Cell Scan100系統(tǒng)組成
                      ■ 系統(tǒng)包括兩個(gè)150W氙燈,分別做為探測(cè)光源和偏置光源(選配件)。
                      ■ 采用300mm焦距的三光柵光譜儀做為分光系統(tǒng),保證良好的波長(zhǎng)準(zhǔn)確度和重復(fù)性,消除多級(jí)光譜的影響。
                      ■ 獨(dú)特的測(cè)試光路,可同時(shí)實(shí)現(xiàn)響應(yīng)度與鏡面反射率的測(cè)試.對(duì)于漫反射樣品的反射率測(cè)試,則采用積分球方式來實(shí)現(xiàn),確保了測(cè)試的準(zhǔn)確性.探測(cè)光光斑大小從3mm至10mm可調(diào),以適合不同尺寸的樣品測(cè)試。
                      ■ 樣品臺(tái)采用高精度二維平移機(jī)構(gòu),配有恒溫(或變溫)及真空吸附裝置,變溫范圍可達(dá)到5~40度。
                      ■ 系統(tǒng)可工作于斬波模式與連續(xù)模式,斬波模式采用鎖相放大器來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集,連續(xù)模式采用高精度直流放大器來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集。
                      ■ 采用二維高精度電控位移臺(tái)可對(duì)電池樣品進(jìn)行Mapping掃描,
                      ■ 專業(yè)軟件,可實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)完成響應(yīng)度、反射率、QE及IPCE的測(cè)試。并可針對(duì)不同應(yīng)用,自行設(shè)計(jì)測(cè)試流程。
                       
                      

                  
              
          太陽能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)
          產(chǎn)品型號(hào):Solar Cell Scan100
          產(chǎn)品代碼:
          產(chǎn)品價(jià)格:
          最后更新:2012-12-14
          關(guān) 注 度:8990
          生產(chǎn)企業(yè):北京卓立漢光儀器有限公司
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          產(chǎn)品詳細(xì)介紹太陽能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)

          Solar Cell Scan100
                  太陽能電池(光伏材料)光譜響應(yīng)測(cè)試、量子效率QE(Quantum Efficiency)測(cè)試、光電轉(zhuǎn)換效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測(cè)試等。廣義來說,就是測(cè)量光伏材料在不同波長(zhǎng)光照條件下的光生電流、光導(dǎo)等。


              

          測(cè)試原理
                      
                 用強(qiáng)度可調(diào)的偏置光照射太陽能電池,模擬其不同的工作狀態(tài),同時(shí)測(cè)量太陽能電池在不同波長(zhǎng)的單色光照射下產(chǎn)生的短路電流,從而得到太陽能電池的絕對(duì)光譜響應(yīng)與量子效率。
                




              



          Solar Cell Scan100特點(diǎn)
          ◆ 掃描光源波長(zhǎng)輸出范圍:300-2000nm
          Solar Cell Scan100不僅適合常規(guī)太陽能電池的性能研究,而且適合各類新型近紅外太陽能電池材料性能的研究,真正實(shí)現(xiàn)了全光譜太陽能電池性能一體化測(cè)試。




              
                  
                      ◆ 獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì) 
                      
             獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì),被測(cè)樣品平面放置,不僅確保樣品的穩(wěn)定擺放,以保證測(cè)試的穩(wěn)定性,而且更適合染料敏化電池的測(cè)試。
                      ◆ JSC模擬計(jì)算功能
                      ◆ 時(shí)間穩(wěn)定度測(cè)試
                      ◆ 具有真空吸附及恒溫保持功能的樣品臺(tái)(選配件)

                      ◆ 測(cè)試光斑大小可調(diào),適用不同尺寸樣品的測(cè)試
                            
                  
              

          ◆ 基于Windows的軟件:
              a) 自動(dòng)控制掃描、樣品切換、光柵切換和數(shù)據(jù)采集
              b) 測(cè)量光譜響應(yīng)度、反射率、內(nèi)量子效率、外量子效率、均勻度掃描等
              c) 數(shù)據(jù)導(dǎo)出及報(bào)表打印功能,數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持Office、Origin、matlab等分析軟件

              
                  
                      ◆ 多結(jié)以及多層膜電池的測(cè)試
                          通過改變偏置光光強(qiáng),來飽和各結(jié)太陽能電池,分析待測(cè)結(jié)太陽能電池量子效率。
                       
                      ◆ 反射率測(cè)量
                          系統(tǒng)提供鏡面反射與漫反射測(cè)試選件,提供您完整的反射率測(cè)試分析手段。
                  
                  
                       
                      
                      
                      偏置光平行光路
                       
                       
                      
                      
                      積分球漫反射測(cè)量
                  
              


              
                  
                      ◆ 開放式偏置光路
                          偏置光路上預(yù)留光學(xué)元件的安裝位置,您可自由改變偏置光的條件,可用于對(duì)太陽能電池缺陷做先期的分析。
                      ◆ 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)
                         適用于樣品尺寸相對(duì)固定的太陽能電池片的量測(cè)?缮(jí)為變溫或恒溫樣品臺(tái)。
                      ◆ 變溫樣品臺(tái)
                      
              在不同的溫度下測(cè)量太陽能電池電流的輸出,對(duì)太陽能電池在實(shí)際工作環(huán)境下是否存在缺陷做先期的分析。
                      ◆ 大面積太陽能電池片(最大156x156mm)的掃描檢測(cè),二維自動(dòng)平移系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)電池樣品的各個(gè)位置做測(cè)量分析(選配件)
                      
             1.量子效率均勻性分析
                          2.反射率均勻性分析
                      
                          
                      標(biāo)準(zhǔn)與變溫樣品臺(tái)
                      
                          
                      電控掃描樣品臺(tái)


                      
                  
              


              
                  
                      ◆ 斬波與連續(xù)兩種測(cè)試模式,可實(shí)現(xiàn)常規(guī)光電池以及慢響應(yīng)光電池的光譜響應(yīng)測(cè)試
                      
              Solar Cell Scan 100 提供斬波模式QE/IPCE測(cè)量,可實(shí)現(xiàn)對(duì)多種太陽電池的測(cè)試(DSSC, Organic, Amorphous silicon,   Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs),也提供連續(xù)模式配合暗室測(cè)量光電轉(zhuǎn)換較慢的太陽能電池材料QE測(cè)量,如染料敏化與光化學(xué)太陽能電池材料量子效率測(cè)量。
                           
                  
              


           Solar Cell Scan100 主要技術(shù)指標(biāo)


              
                  
                      
                      項(xiàng)   目


                      
                      
                      指標(biāo)和說明


                      
                  
                  
                      
                      150W氙燈


                      
                      
                      光學(xué)穩(wěn)定度≦0.8%,可工作在斬波模式(適合常規(guī)單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽能電池)與連續(xù)模式(適合慢響應(yīng)染料敏化電池,有機(jī)太陽能電池)


                      
                  
                  
                      
                      測(cè)試光斑尺寸


                      
                      
                      3mm~10mm


                      
                  
                  
                      
                      三光柵DSP掃描單色儀


                      
                  
                  
                      
                      波長(zhǎng)范圍


                      
                      
                      300nm2000nm


                      
                  
                  
                      
                      波長(zhǎng)準(zhǔn)確度


                      
                      
                      a) ±0.3nm1200g/mm,300nm  b) ±0.6nm(600g/mm,500nm) 
                      c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm)


                      
                  
                  
                      
                      掃描間隔


                      
                      
                      最小可至0.1nm


                      
                  
                  
                      
                      輸出波長(zhǎng)帶寬


                      
                      
                      <5 nm


                      
                  
                  
                      
                      多級(jí)光譜濾除裝置


                      
                      
                      根據(jù)波長(zhǎng)自動(dòng)切換,消除多級(jí)光譜的影響


                      
                  
                  
                      
                      光調(diào)制頻率


                      
                      
                      4 - 400 Hz 


                      
                  
                  
                      
                      標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)尺寸


                      
                      
                      164mmx164mm


                      
                  
                  
                      
                      標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器


                      
                      
                      含校正報(bào)告


                      
                  
                  
                      
                      偏置光源


                      
                      
                      光強(qiáng)可調(diào),最高可大于1個(gè)太陽常數(shù)(需選配)


                      
                  
                  
                      
                      樣品最大尺寸


                      
                      
                      156mm×156mm


                      
                  
                  
                      
                      數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度


                      
                      
                      a) 斬波模式:2nV;b) 連續(xù)模式:100nA


                      
                  
                  
                      
                      測(cè)量重復(fù)精度


                      
                      
                      對(duì)太陽光譜曲線積分重復(fù)性在±1%以內(nèi)


                      
                  
                  
                      
                      測(cè)試周期


                      
                      
                      單次掃描<1min,完整測(cè)試<5min (步長(zhǎng)5nm)


                      
                  
                  
                      
                      反射率測(cè)量


                      
                      
                      鏡面反射 300-1100nm(需選配);漫反射 300-1600nm(需選配)


                      
                  
                  
                      
                      溫度控制


                      
                      
                      恒溫控制:25±1(需選配);變溫控制:5~40(需選配)


                      
                  
                  
                      
                      3D Mapping


                      
                      
                      156mm×156mm,100um分辨率


                      
                  
                  
                      
                      儀器尺寸


                      
                      
                      主機(jī):842mm×770mm×575mm;控制柜:800mm×600mm×1300mm


                      
                  
              



              
                  
                      
                      Solar Cell Scan 100選購件列表


                      
                  
                  
                      
                        號(hào)


                      
                      
                        明


                      
                  
                  
                      
                      QE-A1 偏置光源附件


                      
                      
                      150W 高穩(wěn)定氙燈,平行光路含濾光片支架,光穩(wěn)定度0.8% 


                      
                  
                  
                      
                      QE-C1 鏡面反射率測(cè)試附件


                      
                      
                      Si探測(cè)器,波長(zhǎng)范圍300-1100nm


                      
                  
                  
                      
                      QE-C2 漫反射率測(cè)試附件


                      
                      
                      含漫反射測(cè)量積分球,Si & InGaAs探測(cè)器波長(zhǎng)范圍300-1600nm


                      
                  
                  
                      
                      QE-D1 二維電動(dòng)樣品臺(tái)


                      
                      
                      XY 二維電移臺(tái)及控制驅(qū)動(dòng)


                      
                  
                  
                      
                      QE-F1 真空吸附樣品臺(tái)


                      
                      
                      156mm x156mm


                      
                  
                  
                      
                      QE-F2 恒溫樣品臺(tái)


                      
                      
                      25 ±1,156mm x156mm


                      
                  
                  
                      
                      QE-F3 變溫樣品臺(tái)


                      
                      
                      5-40 ,臺(tái)面尺寸30 mm x30mm


                      
                  
              


          北京卓立漢光儀器有限公司
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